实验室室内质量控制

附件2

实验室室内质量控制

质量控制是指为确保实验工作正常进行而在每次实验过程中采取的各种措施。实施质量控制表明实验产生可信的结果，具体是将质控品和待检测样本一起检测，通过对质控品检测结果的分析，了解实验条件是否正常，判定本次实验结果是否有效。

1 质量控制的基本原理

1.1 制定质控策略：实验室规定分析的质控品、每一质控品测定次数、质控品的位置。做出分析性能是否可接受的质控规则，对失控情况执行恰当的处理措施。

1.2 质控品的检测频次和位置：

质控品的检测频次和位置应反映检测系统的性能。为满足不同实验室情况的需要，实验室可额外增加质控品以及不同的位置。质控品固定放在病人样本前或后可监测漂移；质控品在病人样本中随机放置可检出随机误差。随着自动化分析仪的分析性能更加稳定，实验室也可减少质控品检测的频次。

1.3 质控规则：

质控规则是解释质控数据和判断分批控制状态的标准，某些规则是专为查出随机误差的，有些是为查出系统误差的。常用规则有六条（X: 平均数；s: 标准差）。①12 s: 一个质控结果超过X±2 s, 提示警告。②13 s: 一个质控结果超过X±3 s, 发现随机误差（可能也有系统误差），该批测试失控。③22 s: 在批内测试中，若有两个浓度质控品的测定结果（或三个浓度质控品的测定结果中有两个）同时超过了X＋2 s或X-2 s,为违背此规则;在批间测试中,当某一浓度的质控品在此批和前一批中的测定结果同时超过了X＋2 s或X-2 s, 为违背此规则,表示存在系统误差。④R4 s: 同批两个质控结果之差值超过4 s，为违背此规则，表示存在随机误差。⑤41 s：一个质控品连续的四次测定结果都超过X＋1 s或X-1s,为违背此规则，表示存在系统误差。⑥10X: 十个连续的质控结果在平均数一侧，为违背此规则，表示存在系统误差。

1.4 质控图：

质控图（control chart）是对过程质量加以测定、记录从而评估和监察过程是否处于控制状态的一种统计图,用于判断过程正常还是异常的一种统计工具。图上有中心线（central line,

CL）、上控制界限（upper control limit, UCL）和下控制界限（lower control limit, LCL），并有按时间顺序抽取的样本统计量值的描点序列,UCL、CL与LCL统称为质控限（control lines）。若控制图中的描点落在UCL与LCL之外或描点在UCL 与LCL之间的排列不随机，则表明过程异常。世界上第一张质控图是美国休哈特（W.A.Shewhart）在1924年5月16日提出的不合格品率（p）控制图。最常用的质控图是Levey-Jennings质控图。

1.5 质控限：

质控限由实验室根据使用方法检测质控品结果的平均值和标准差来计算。质控品的平均值和标准差应建立在实验室常规使用方法对质控品重复检测的基础上,如果使用定值质控品，质控品的值仅供参考，平均值和标准差的实际值必须由实验室重复检测建立。

（1）暂定中心线（均值）的确定：为了确定中心线，新批号的质控品应与当前使用的质控品一起进行检测。根据至少20次质控测定结果，对数据进行离群值检验（剔除超过3s外的数据），计算出平均数，作为暂定中心线（均值）。以此暂定中心线（均值）作为下一个月室内控制图的中心线（均值）进行室内控制；一个月结束后，将该月的在控结果与前20个控制测定结果汇集在一起，计算累积平均数（第一个月），以此累积的平均数做为下一

个月控制图的中心线（均值）。重复上述操作过程，连续三至五个月。

（2）常规中心线（均值）的建立：以最初20个数据和三至五个月在控数据汇集的所有数据计算的累积平均数作为质控品有效期内的常规中心线（均值），并以此作为以后室内控制图的中心线（平均数）。对个别在有效期内浓度水平不断变化的项目，则需不断调整中心线（均值）。

（3）暂定标准差的设定：为了确定标准差，新批号的质控品应与当前使用的质控品一起进行测定。根据至少20次质控测定结果，对数据进行离群值检验（剔除超过3s外的数据），计算出标准差，并作为暂定标准差。以此暂定标准差作为下一个月室内控制图的标准差进行室内控制；一个月结束后，将该月的在控结果与前20次控制测定结果汇集在一起，计算累积标准差（第一个月），以此累积的标准差作为下一个月控制图的标准差。重复上述操作过程，连续三至五个月。

（4）常用标准差的设定：以最初20次质控测定结果和三至五个月在控质控结果汇集的所有数据计算的累积标准差作为质控品有效期内的常用标准差，并以此作为以后室内控制图的标准差。

1.6 失控及失控后处理：

质量控制的核心问题在于努力分清误差类型。检验误差类型包括：（1）随机误差：严密监测和控制，使其限制在临床允许的范围之内，并逐步使之缩小。（2）系统误差：要求尽快发现，及时校正。（3）过失误差：尽量消灭。

当质控已计划并恰当地执行时，要求可靠的平均值和标准差用于计算质控限，将假失控概率降到最低。当出现失控时进行如重复质控测定或重新分析新的质控品不是最有效的方法,应当找出问题原因，找出解决问题的方法，并消除问题，防止将来出现同样的问题。所以实验室应建立质控图分析及失控情况处理程序。

1.7 失控原因初步查找：

1.7.1 初步估计失控原因

对检测过程进行回顾分析，选择性复查分析判断失控原因。a.与技术人员一起复习操作指导书，仔细检查操作步骤中是否有遗漏或改变；b.核查试剂及各组分的失效期；c.核对孵育的温度和时间；d.加样器、洗扳机、酶标仪等是否正常，酶标仪的波长是否准确，加样

器和酶标仪是否校准；e.检查蒸馏水的质量；f.检查试剂是否被污染，贮存是否合适。

1.7.2 通过检测数据分析失控原因

①原始数据分析：原始数据包括空白对照＼阴性对照＼阳性对照＼标准等检测数据一致，表明无明显系统误差，失控原因在质控品或该管操作造成的可能性较大。分析同一瓶质控品的其他项目测定是否也有结果异常，如果有异常，说明质控品本身有问题；如果无异常，说明该管操作有问题。检测数据不一致表明该批检测中可能有系统误差，失控原因来自试剂仪器或操作等的可能性较大。观察仪器检测其他项目的结果有无异常。如果有异常，说明仪器原因；如果无异常，说明试剂或操作等原因。

②质控图分析：进一步从质控图上观察失控是否发生在渐变的基础上。如果是渐变的，则由渐变的误差因素造成；否则由突然发生的误差因素造成。引起位移的原因有：a.使用一批新批号的试剂；b.更换了新的试剂；c.孵育温度改变；d.新的技术人员（其加样技术也许不同）；e.仪器改变（如加样器等）。引起趋势的原因有：a.试剂失效；b.仪器有问题。发生位移和趋势的最常见原因是试剂或质控品的失效，试剂盒中酶结合物最容易失效。另外，试剂在运输和贮存条件不当时，也容易失效。

2 艾滋病检测实验室室内质量控制

2.1 酶免或发光法检测的室内质量控制

2.1.1 试剂盒内部对照

试剂盒内部对照质控品即为试剂盒内提供的阳性和阴性对照。试剂盒内部对照用于判断每次实验的有效性，不能作为室内质控品使用。每一次检测临床样本时，必须有试剂盒内部对照，而且只能在同批号的试剂盒中使用。如内部对照结果无效，必须重新试验。

2.1.2 室内质控品

为非试剂盒组份的外部质控品，是为了监控检测的重复性而设置的，质控品定值必须为弱阳性。外部质控品的作用是判断该批临床样本检测的可信性。因此，每次实验必须包含室内质控品，出现失控时，必须重新试验。室内质控品可以购买或实验室自行制备。质控品应稳定、无菌、或不含有影响试剂反应的防腐剂。

2.1.3 Levey-Jennings质控图

2.1.3.1 质控图参数

外部质控品的均值和标准差应建立在实验室常规使用方法对外部质控品重复测定的基础上。一般采用在不同批次检测取得至少20个数据；如果仅做少量批次的检测，也至少做5个批次的检测，每个批次中不少于4个质控血清测定结果，以建立一个临时性的均值和标准差，当达到20批次数据后，替代临时性的均值和标准差。

（1）算术平均值（）：代表一组质控品测定S/CO值的均值。为了统计学上有显著性意义，应该采用至少20次（天）测得的外部对照质控品的S/CO值计算平均值。

（2）标准差（s）：是描述样本与均数之间离散程度的一个指标，是与质控品S/CO值均值有关的预期范围。一组S/CO值的标准差以s表示。

（3）变异系数（cv）：是反映各次S/CO值相对于均值离散程度的一个指标，可以用来衡量检测的重复性或精密度。

（4）控制限：由实验室根据对外部质控品检测结果的均值和标准差来确定。例如，按照12S质控规则，控制限为外部质控品S/CO均值加减2个标准差；按照13S质控规则，控制限

为外部质控品S/CO均值加减3个标准差。

2.1.3.2 质控规则

实验室在报告结果之前必须评价质控数据，可通过图形记录的检查或由计算机审核结果来决定。目前有许多质控规则，常用的是12S和13S规则。

（1）告警（12S）：当外部质控品的S/CO值超出+2s范围时，系统处于告警状态，应予注意，是否可以继续检测需要进一步观察。若将12S做失控标准，有较高的假失控概率，所以一般不采用。

（2）失控（13S）：当外部质控品的S/CO值超出+3s范围时，系统处于失控状态，本次实验结果不能被接受，可能是系统误差、随机误差或外部质控品稳定性下降所致。

2.1.4 室内质控其他方式—“即刻法”质控

“即刻法”质控方法是在对同一批外部质控品连续测定3次后，即可对第3次以后的检验结果进行质控。具体计算方法如下：

（1）将质控品的测定值从小到大排列：x1，x2，x3……xn（x1为最小值，xn为最大值）。

（2）计算和s。

（3）计算SI上限值和SI下限值。

SI上限=	X最大值-
SI上限=	S

SI下限=	-X最小值
SI下限=	S

（4）将SI上限、SI下限与SI值表（表1）中的数字比较。

表1 SI值表

N	N3s	N2s	n	n3s	N2s
3	1.16	1.15	12	2.55	2.29
4	1.49	1.46	13	2.61	2.33
5	1.75	1.67	14	2.66	2.37
6	1.94	1.82	15	2.71	2.41
7	2.10	1.94	16	2.75	2.44
8	2.22	2.03	17	2.79	2.47
9	2.32	2.11	18	2.82	2.50
10	2.41	2.18	19	2.85	2.53
11	2.48	2.23	20	2.88	2.56